惠普/HP4278A 安捷伦/Agilent 4278A 电容测试仪

惠普/HP4278A 安捷伦/Agilent 4278A 电容测试仪 20Hz-1MHz

品牌: 惠普 HP

测量速度:6.5ms/10ms/21ms

测量参数:C-D,Q,ESR,G

C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)

0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。

技术指标：

测量参数
C-D，Q，ESR，G

测试信号

频率：
1kHz和1MHz±0.02%

信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进

测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）

测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF

D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m

比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试

存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。

技术指标：

测量参数
C-D，Q，ESR，G

测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%

信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进

测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）

测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度

电缆长度补偿
0,1或2m

比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试

存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。

一般技术指标：

工作温度/湿度
  5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
  •4278A 1kHz/1MHz电容测试仪
  Opt W30 扩大的维修服务
  Opt 001 只1kHz测试频率
  Opt 002 只1MHz测试频率
  Opt 003 1%的频率漂移；

电源
  100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
  Amax

尺寸
  约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)